Электрнно-зондовый микроанализ тонких пленок.

Main
Электрнно-зондовый микроанализ тонких...

Электрнно-зондовый микроанализ тонких пленок.

Васичев Б.Н.

0 / 0

Quanto Você gostou deste livro?

Qual é a qualidade do ficheiro descarregado?

Descarregue o livro para avaliar a sua qualidade

De que qualidade são os ficheiros descarregados?

Ano:

1977

Idioma:

russian

Páginas:

242

Arquivo:

DJVU, 4.27 MB

IPFS:

,

russian, 1977

Descargar (djvu, 4.27 MB)

A converter para

Conversão para falhou

Você pode estar interessado em

Бахтиаров А.В. — Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ в геологии и геохимии.

Папко, Людмила Федоровна — Физико-химические методы исследования неорганических веществ и материалов

Глоба, Иван Иванович — Оптические методы и приборы контроля качества продукции : тексты лекций для студентов спец. 1-54.01.02

Бычков Петр Степанович, — Физико-химические методы исследования. Методические указания к лабораторным работам : учебно-методическое пособие

коллектив авторов. — Локальные методы анализа материалов

коллектив авторов. — Электронно-зондовый микроанализ

Николичев Д. Е., Боряков А. В., Суродин С. И., Крюков Р. Н. — Анализ твёрдотельных гетеронаносистем методом РФЭС: Учебно-методическое пособие

Черноруков Н. Г., Нипрук О. В. — Теория и практика рентгенофлуоресцентного анализа: Электронное учебно-методическое пособие

Николичев Д. Е., Боряков А. В., Суродин С. И. — Химический анализ твердотельных гетеронаносистем методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии: Учебное пособие

Зайдель А.Н. — Основы спектрального анализа

Скотт В. (ред) — Количественный электронно-зондовый микроанализ

Лосев Н.Ф., Смагунова А.Н. — Основы рентгено-спектрального флуоресцентного анализа

Тренева Н.В., Тренева М.А. — Электронно-зондовый макроанализ неоднородных поверхностей (в свете теории распознавания образов).

Малви Т. — Количественный электронно-зондовый микроанализ.

Ищенко А.А. — Спектральные методы анализа

О.В. Овчинников, Л.Ю. Леонова, А.Н. Латышев, М.С. Смирнов, Т.С. Шатских — Общий физический практикум : "Атомный эмиссионный спектральный анализ"

Кулаков Ю. А. — Электронная микроскопия

Комиссаренков А.А. — Рентгенофлуоресцентный метод анализа

Смирнов С.В. — Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем

Составители: Отмахов В.И., Петрова Е.В. — Метод дуговой атомной спектрометрии с многоканальным анализатором эмиссионных спектров. Учебно-методическое пособие

Черноруков Н.Г., Нипрук О.В. — Теория и практика рентгенофлуоресцентного анализа

Смирнов С.В. — Методы и оборудование контроля параметров технологических процессов производства наногетероструктур и наногетероструктурных монолитных интегральных схем

— Применение анализаторов МАЭС в промышленности. Материалы VII международного симпозиума 2006 15-18 августа

Батаев А.А., Батаев В.А. и др. — Физические методы контроля качества материалов

Асеев В.А., Золотарев В.М., Никоноров Н.В. — Приборы и методы исследования наноматериалов фотоники

Гарифзянов А.Р. (сост.) — Эмиссионная фотометрия пламени и атомно-абсорбционная спектроскопия

Синица Л.Н. — Методы спектроскопии высокого разрешения

Горюнов А.В. — Рентгенофазовый анализ порошковых материалов на дифрактометре ДР-02 РАДИАН

Биркс Л.С. — Рентгеновский микроанализ с помощью электронного зонда

Родзевич А.П. — Методы контроля и анализа веществ

Глоба И.И. — Оптические методы и приборы контроля качества продукции

Буянова Е.С. (сост.) — Оптические методы анализа объектов окружающей среды и пищевых продуктов

Скорняков Г.П. (ред.), Шаевич А.Б. (ред.), Богомолов С.Г. (ред.) — Материалы четвёртого уральского совещания по спектроскопии

Мышкин В.Ф., Хан В.А. — Спектральные методы исследований

Осьмушко И.С., Вовна В.И., Короченцев В.В. — Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия твёрдых тел: теория и практика

Frases chave

излучения

рентгеновского

электронов

элементов

интенсивности

интенсивность

импульсов

объектов

электронного

позволяет

измерения

регистрации

спектрометра

элемента

спектров

напряжения

зависимость

аналитической

чувствительность

вещества

коэффициент

измерений

определения

электронно

возбуждения

анализатора

значения

величины

детектора

толщиной

распределения