Микропроцессорные системы поэлементного диагностирования РАЭ
Н.П.Байда, И.В.Кузьмин, В.Т.Шпилевой
Рассмотрены вопросы проектирования и применения микропроцессорных систем тестового поэлементного диагностирования (СПД) и контроля радиоэлектронной аппаратуры и микросборок. Анализируются дефекты и даются рекомендации по их эффективному обнаружению. Изложена методика автоматизированного получения рабочих программ поэлементного диагностирования. Приведены конкретные технические решения ряда устройств СПД.Для инженерно-технических работников, занимающихся разработкой и эксплуатацией систем контроля и диагностирования.
Ano:
1987
Editora:
Радио и связь
Idioma:
russian
Páginas:
256
Arquivo:
DJVU, 3.40 MB
IPFS:
,
russian, 1987